X 射线衍射仪（XRD）
一、仪器名称
X 射线衍射仪（X-Ray Diffractometer，XRD）
二、仪器作用
通过 X 射线衍射原理，分析材料的晶体结构、物相组成、晶型、结晶度，定性 / 定量鉴定矿物、合金、粉末等晶体物质，是物相分析核心仪器。
三、应用领域
地质矿产（矿物鉴定）、材料检测（陶瓷、合金、粉末）、化工原料（催化剂、填料）、医药（药物晶型）、环保（固废、土壤矿物相）。
四、仪器数据举例
| 检测项目 | 检测范围 | 分辨率 | 准确度 |
|---|
| 物相鉴定 | 无机晶体全品类 | ≤0.02° | ≥98% |
| 结晶度 | 0~100% | ±1% | ≤±2% |
| 晶胞参数 | 全晶系适配 | ±0.001Å | ≤±0.5% |
