老化试验箱
一、仪器名称
老化试验箱（Aging Test Chamber）
二、仪器作用
通过模拟高温、高温高湿、紫外辐射、臭氧等单一或复合环境，加速材料 / 产品老化，评估其耐久性、可靠性与寿命变化，快速发现性能衰减、开裂、变色、失效等问题，支撑研发验证与质量管控。常见类型含高温老化、紫外老化、臭氧老化、HAST/PCT 加速老化等。
三、应用领域
电子电器（元器件、PCB、电源、LED）、汽车零部件（密封件、涂层、传感器）、高分子材料（塑料、橡胶、涂料）、航空航天构件、新能源（电池 / 储能）
四、仪器数据举例
| 检测参数 | 技术指标 | 典型场景 |
|---|
| 温度范围 | RT+20℃~300℃（高温型） | 电子元件高温寿命测试 |
| 温湿度范围 | 70~130℃、85%~95%RH（HAST/PCT） | 半导体封装可靠性 |
| 温度均匀度 | ≤±2℃（空载） | 保证测试一致性 |
| 升降温速率 | 1~5℃/min | 快速模拟工况 |
| 紫外辐照度 | 0.35~1.7W/m² | 材料耐候加速测试 |
